Spectral RTL Test Generation for Gate-Level Stuck-at Faults

机译：门级卡住故障的频谱RTL测试生成

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Nitin Yogi; Vishwani D. Agrawal;
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年度 2006
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2. Automatic Test Pattern Generation for Multiple Stuck-At Faults: When Testing for Single Faults is Insufficient [J] . Conrad JINYONG MOORE, Amir MASOUD GHAREHBAGHI, Masahiro FUJITA 電子情報通信学会技術研究報告. システム数理と応用. Mathematical Systems Science and its Applications . 2016,第96期

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3. Automatic Test Pattern Generation for Multiple Stuck-At Faults: When Testing for Single Faults is Insufficient [J] . Conrad JINYONG MOORE, Amir MASOUD GHAREHBAGHI, Masahiro FUJITA 電子情報通信学会技術研究報告. 回路とシステム. Circuits and Systems . 2016,第93期

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4. Spectral RTL Test Generation for Gate-Level Stuck-at Faults [C] . Nitin Yogi, Vishwani D. Agrawal Asian Test Symposium . 2006

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